CV-4500

藉由上下面连续测量机能, 组合了两侧圆锥测针，因此能够连续测量上下面。一直以来在测量上都较困难的螺丝有效径等等，只要使用上下面连续测量的资料即可简单地作解析。
能同步进行校正作业的简便设计 CV-4500系列所使用的统一校正组（标准附属品），为了让上下两侧圆锥测针也能简单地作校正而做了加强。Z1轴增益、对称性、测针半径等繁琐的校正作业都能一次进行。

搭载测定力可变机能

测定力可从资料处理软体（FORMTRACEPAK）设定(５个阶段)。不需变换重量和调整位置等测定力的调整作业。另外，倾斜姿势也能够以设定的测定力作追踪。

扩大测定范围并减少作业中的干涉

最新设计的」测臂可减少作业中的干涉，并且扩大Z1轴（检出部）测定范围。

轻松安装更换测臂 测臂的衔接处采用磁性接头，可快速做安装更换。且装卸部里头有设计安全装置。

最高等级的指示精度 CV-4500系列在Z1轴(检出部)搭载了高精度圆弧光学尺。能缩小因直接测量测针前端的圆弧轨道所产生的误差，实现了高精度、高分解能的测量。在X轴（驱动部）也搭载了光学尺，可用全行程作高精度测量。
操作性优越 以摇杆安全、简单地快速操作 从决定位置到测定都可用摇杆快速移动。并且为了提升快速移动时的安全性，於摇杆上设有紧急停止开关和驱动速度控制钮。
不需设定原点即可测定复数断面 於Z2轴（立柱）搭载ABS光学尺，反覆做段差测定和复数断面测定时不需再做麻烦的原点设定。
以各种微动装置简单决定位置 因为有Ｘ轴驱动倾斜装置、X轴和Z2轴的微动装置等配备，可以有效率地进行倾斜面、小孔测定等作业。

轮廓分析软体: FORMTRACEPAK

FORMTRACEPAK 的功能可全面支援量测系统操控、表面粗度分析、轮廓分析、轮廓

轮廓分析功能

指令共有点（10种）、线(6种) 、圆(6种)等多种分析的基本要素，配合这些要素的角

度、间距、距离等丰富的计算指令、轮廓比对机能、设计值生成机能，也作为标准装备而做了设计。再加上能将平常不太使用的计算指令隐藏起来等客制化的机能，能配合使用环境让画面设定更符合客户需求。

圆、线自动决定功能

只要使用圆、线自动配对指令，就不需再按数次指令键即可自动算出资料内包含的所有圆、线。

异常点去除机能

计算时可自动排除资料内所含有的异常点。且当圆与线的界限难以判别时也可设定计算范围。

以文件方式输出计算结果

可将测定图形的资料以点列资料的方式输出至文件档案或CAD档案 (DXF、IGES格式)，并能复制到共用档案。能够活用於市售的文书处理软体、统计处理软体，以及与未安装专用分析软体的电脑之档案共享，和CAD的逆向工程之中。

内建轮廓比对功能

只要使用圆、线自动配对指令，就不需再按数次指令键即可自动算出资料内包含的所有圆、线。

线上型录